Microscope droit Eclipse LV150N

La rencontre entre l’imagerie numérique et un système optique de pointe

Description

Un microscope à tourelle manuelle répondant aux différents besoins d’observation, d’inspection, de recherche et d’analyse de nombreux domaines industriels. Grâce à une ouverture numérique et une distance de travail sans précédent, ce microscope offre des performances optiques supérieures et une imagerie numérique ultra-efficace.

Taille max. de l’échantillon : 150 x 150 mm.

Points Clés

  • Statif modulaire adapté à différentes tâches et observations

  • La toute dernière gamme CFI60-2 offre des distances de travail exceptionnellement longues ainsi qu’une correction optimale des aberrations chromatiques

  • Imagerie numérique simple d’utilisation

Spécifications

  • Type de microscope

Modèles combinant lumière réfléchie et lumière transmise

Manuel

  • Statif modulaire adapté à différentes tâches et observations

Compatible avec des observations fond clair, fond noir, polarisation simple, contraste interférentiel différentiel, épifluorescence et interférométrie à 2 faisceaux. Il est également possible de réaliser des observations en contraste interférentiel différentiel et en contraste de phase avec un éclairage diascopique.
Le boîtier permet des recherches, des analyses et des inspections de pointe dans des domaines extrêmement variés.

  • Platines compatibles

LV-S32 3×2 stage (Stroke: 75 x 50 mm with glass plate)
*Can be fitted with LV-S32SPL ESD plate

LV-S6 6×6 stage (Stroke: 150 x 150 mm)
*Can be fitted with LV-S6WH wafer holder / LV-S6PL ESD plate

LV-SRP P revolving stage

P-GS2 G stage 2 (Used with stage adapter LV-SAD)

  • Nouvelle gamme CFI60-2

La toute dernière gamme CFI60-2 offre des distances de travail exceptionnellement longues ainsi qu’une correction optimale des aberrations chromatiques


La gamme CFI60-2 offre une ouverture numérique et des distances de travail encore jamais atteintes.

 

  • Imagerie numérique simple d’utilisation

Dès que l’objectif en cours d’utilisation est détecté, des informations relatives à celui-ci s’affichent sur l’unité de commande de la caméra. De plus, les informations sont automatiquement converties en données d’étalonnage adéquates au moindre changement de grossissement.

Système de caméra numérique pour microscopie Digital Sight Series

Logiciel de traitement d’image « NIS-Elements »

 

 

Applications

  • Antennes

  • Télécommunications & électronique

  • MEMS

  • Metallurgie

  • Implants/ Prothèses

  • Composites

  • Fabrication métallique

  • Tissus/ textiles

  • Analyse de fissures et de ruptures

  • Optiques de télescope

  • Téléphones mobiles, rasoirs électriques et montres

Notes d'Applications et Articles Techniques