Mesures / caractérisations de couches minces

Analyse et mesures d’épaisseurs de couches minces de 5nm à 200um.

Description

Nous proposons une gamme complète de systèmes de mesure d’épaisseur de film pouvant mesurer de 5nm à 200µm pour l’analyse de films monocouches et/ou multicouches en moins d’une seconde. Les systèmes de réflectométrie en couches minces StellarNet sont constitués d’un spectromètre compact couplé à une sonde à réflectance et à une source de lumière.

Les propriétés optiques sont obtenues à partir de la réflexion et l’épaisseur est mesurée en détectant le motif de frange sinusoïdal à partir de la réflectance spéculaire de l’échantillon. Plusieurs systèmes à couche mince sont disponibles pour répondre à vos exigences en matière de mesure de couche mince et / ou optique.

Points Clés

  • Mesure d’épaisseurs de 5nm à 200um

  • Capture spectrale en temps réel pour la réflectance et/ou la transmittance

  • Bibliothèque de données sur les matériaux

  • Prend en charge des couches épaisses, minces, autoportantes et rugueuses

  • Supports Matériaux paramétrés : Cauchy, Sellmeir, EMA, Oscillateur harmonique, Oscillateur Tauc-Lorentz, Drude-Lorentz

Spécifications

Le système complet comprend :

 

  • Spectromètre compact UV-VIS (200-1100nm) et/ou NIR (900-1700nm)

  • Source lumineuse

  • Fibre optique

  • Sonde pour mesure en reflectance

  • Logiciel de paramétrage et d’acquisition SpectraWiz

  • Application spécifique pour l’analyse de couches minces

 

 

Applications

Ce système permet de mesurer et de caractériser tous types de couches minces.

Notes d'Applications et Articles Techniques

Produits qui pourraient vous intéresser