La Mesure d’épaisseur de couches minces

Principe interférométrique appliqué à la mesure d’épaisseur de films minces transparents

Description

A l’aide d’une source lumière blanche identique à celle utilisée avec le principe confocal chromatique mais avec une sonde différente, il devient possible avec la même configuration standard du spectromètre de mesurer des films minces. Quand la lumière est focalisée sur un film mince (entre 2μm et 250μm), il se crée une figure d’interférences spectrales. En prenant le traitement mathématique (FFT) du signal réfléchi, il est possible de déterminer des épaisseurs multiples jusqu’à la vitesse de 66 kHz. Cette technique de mesure peut être appliquée à des matériaux humides ou secs pour la mesure d’épaisseur de film ou de fluide ou encore de gaps d’air.

Points Clés

  • Sources Halogen, Xenon et LED disponibles

  • Matériaux transparents ou translucides

  • Epaisseur mesurable de 2 μm à 250 μm

  • Vitesse de mesure jusqu’à 66kHz

  • Excellente résolution latérale

Spécifications

Concernant les spécifications des contrôleurs, veuillez vous reporter aux pages produits : CHRocodile S, 2 S, SE, 2 SE, E, LR, M4

Applications

  • Horlogerie
  • Industrie mécanique
  • Papier & Impression
  • Chimie & Matériaux

Notes d'Applications et Articles Techniques

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