Les instruments de métrologie des surfaces AltiSurf© conjuguent l’approche métrologique et la microscopie optique dans une cartographie 3D, via la prise de profils successifs effectuée par le scanning d’un point de mesure confocal chromatique ou d’un stylet à faible force d’appui.

Dérivée de la notion de rugosité bien connue des mécaniciens, la connaissance approfondie des vallées et pics de la surface étudiée autorise les chercheurs et ingénieurs à établir des diagnostiques de qualité, de fonctionnalité, d’esthétique de leur produit ou de leur matériau avec une nouvelle approche métrologique.

Celle-ci intègre de nouveaux paramètres de rugosité surfaciques qui établissent actuellement via les travaux des commissions de normalisation la nouvelle norme de mesure ISO 25 178 au sein de l’ISO International. Ces systèmes intègrent également des platines motorisées de grandes précisions afin de scanner tous types d’échantillons.

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Station de mesure Altisurf 560

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