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Votre contact : Laurent GREULICH

Microscope droit Eclipse LV-DAF

 

 

 

Le système de mise au point automatique pour les microscopes Eclipse LV et les applications OEM

Le système LV-DAF permet une mise au point automatique rapide et polyvalente grâce au système d' autofocus hybride. Issu de la combinaison de deux techniques de mise au point automatique, l'une par projection de fente et la seconde par détection du contraste, ce système s'applique sur un champ large avec une rapidité importante. Ce système supporte diverses méthodes d’observation, notamment l’observation en fond clair, fond noir et contraste interférentiel (DIC) y compris sur un certain nombre d'échantillons transparents.

 

 

Applications

  • Antennes

  • Télécommunication et électronique 

  • Optique

  • Téléphones portables, rasoirs et montre

Caractéristiques clés et avantages

 

  • Mise au point automatique hybride

Il existe deux types fréquents de systèmes de mise au point automatique pour les microscopes: par projection de fente et par détection du contraste.

Le système par projection de fente projette une image de la fente puis détecte le décalage dans la lumière reflétée. Ce système est utile lorsqu’une plage focale étendue est nécessaire.
Le système par détection du contraste projette un motif de la fente puis détecte le contraste de la lumière reflétée. Ce système est utile lorsqu'une grande précision de la mise au point est requise puisque ce système de mise au point automatique est moins affecté par les variations de surface de l’échantillon.

La mise au point automatique hybride combine les avantages des deux systèmes et tire le maximum de leurs potentiels.

  • Design

Le contrôleur est extrêmement compact et présente le même design que le LV-ECON permettant de les placer l'un sur l'autre.

  • Microscopes série LV

L’unité LV-DAF peut être combinée avec d’autres produits de la série LV. En combinaison avec le LV-ECON, elle permet d'observer dans des conditions optimales quelque soit l'échantillon.

  • Développement logiciel

Nikon fournit les SDK destiné à intégrer l’unité LV-DAF dans divers systèmes. (La compatibilité n’est garantie qu’avec les produits Nikon.)

  • Contrôle

L’unité LV-DAF peut être contrôlée à partir d'un ordinateur ou d'un système de caméra numérique DS-L2 via USB ou RS232C

  • Programme de réglage automatique

Le programme de réglage automatique, fourni de série, permet une configuration simple et rapide du système. Le programme réalise un réglage automatique immédiat dès que l’utilisateur met au point le système et appuie sur le bouton pour démarrer la configuration. Il est également possible de définir et d’enregistrer automatiquement les paramètres optimaux pour chaque type d’échantillon et de les rappeler ensuite en fonction de l’échantillon photographié.

  • Source d'éclairage à LED

L’unité LV-DAF utilise une LED pour parfaire la mise au point automatique. L'intensité lumineuse est réglée automatiquement en fonction de la mise au point de l'échantillon, ce qui permet de travailler avec des échantillons dont la réflectivité est de faible à élevée.

  • Méthodes d'observation multiples

L’unité est compatible avec une large gamme de méthodes d’observation, notamment en fond clair, fond noir et DIC. Les échantillons réfléchissants et les échantillons transparents sont également pris en charge.

  • Grande plage focale

La plage focale est remarquablement plus grande lorsque l’on utilise la détection du contraste seule. Cela signifie que les échantillons présentant des distorsions sur leur surface, tels que les cristaux liquides, peuvent être rapidement tracés, ce qui permet une mise au point rapide.

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Spécifications