PHOT’Innov-La Mesure d’épaisseur de couches minces

Mesure couche mince

Partagez cet article

Partager sur facebook
Partager sur linkedin
Partager sur twitter
Partager sur email

Principe interférométrique appliqué à la mesure d’épaisseur de films minces transparents

A l’aide d’une source lumière blanche identique à celle utilisée avec le principe confocal chromatique mais avec une sonde différente, il devient possible avec la même configuration standard du spectromètre de mesurer des films minces. Quand la lumière est focalisée sur un film mince (entre 2μm et 250μm), il se crée une figure d’interférences spectrales. En prenant le traitement mathématique (FFT) du signal réfléchi, il est possible de déterminer des épaisseurs multiples jusqu’à la vitesse de 66 kHz. Cette technique de mesure peut être appliquée à des matériaux humides ou secs pour la mesure d’épaisseur de film ou de fluide ou encore de gaps d’air. .

Ce qu’il faut retenir…

  • Sources Halogen, Xenon et LED disponibles
  • Matériaux transparents ou translucides
  • Epaisseur mesurable de 2 μm à 250 μm
  • Vitesse de mesure jusqu’à 66kHz
  • Excellente résolution latérale
  • CHRocodile S, 2S, SE, 2 SE, E, LR et M4

 

Application :

  • Horlogerie
  • Industrie mécanique
  • Papier & Impression
  • Chimie & Matériaux

 

nos catégories de produits qui pourraient vous intéresser

Autres Articles de cette catégorie

Inscrivez-vous à notre Newsletter

Recevez les dernières actualités & offres spéciales